擊穿電壓測(cè)試 概述： 在一定條件下逐步增高施加樣品上的電壓，直到樣品發(fā)生擊穿破壞為止，此時(shí)的電壓被稱(chēng)為擊穿電壓。
測(cè)試范圍： a.塑料 b.絕緣膠片 c.金屬基板 d.PCB e.電子元器件 參考標(biāo)準(zhǔn)： ASTM D 149-09 GB/T 1408.1-2006 IEC 60243-1-1998 ASTM D1000-2004 深圳市賽特檢測(cè)有限公司提供服務(wù)有：可靠性測(cè)試、材料物理性能測(cè)試、材料分析、包裝材料檢測(cè)、環(huán)保測(cè)試等。
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