MC022系列薄膜測(cè)厚儀(CH-1-S) MC022系列薄膜測(cè)厚儀 MC022系列(CH-1-S) 一、CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀概述: ?? CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。
本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
二、CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀主要參數(shù): 1. 量程：0-1mm 分度值：0.001mm 2. 上測(cè)頭曲率半徑：15-50mm 3. 測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N 4. 測(cè)量精度：100vm以內(nèi)＜1vm ???????????? 100-250vm＜2vm ???????????? 250vm＜3vm 標(biāo)簽： ? ? 廈門市薄膜薄片測(cè)厚儀 ? 廈門市薄膜薄片測(cè)厚儀廠家
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