LA-ICP-MS 的*級飛躍 ? ? ? ?J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破。
J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
? ? LA-ICP-MS 的*級飛躍 ? ? ? ?J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破。
J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
? 減少樣品的依賴性，比霧化技術精度高 ? ? ? ?J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應。
而采用長激光脈沖的系統(tǒng)，會發(fā)生的多種熱過程，改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學成分，如改變熱特性等；并且無論采用什么波長，如266nm, 213nm 或193nm, 為了準確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質。
? ? ? ? ?J200LA-fs剝蝕均勻一致，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性，無需高度匹配的標準物質，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。
? 均勻一致的粒徑確保高精度、高靈敏度測量 ? ? ? ?長激光脈沖系統(tǒng)產生的樣品顆粒大（常大于數(shù)微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，并且降低了分析的靈敏度。
大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產生峰值，導致測量精度降低。
J200系統(tǒng)產生的樣品顆粒均勻一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，運輸效率高。
這些到達ICP源的顆粒能完全被消解，產生穩(wěn)健、恒定的瞬時ICP-MS信號。
用戶可完全依靠J200系統(tǒng)輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng)。
? ? 元素和同位素的分餾少 ? ? ? ?在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學計量物質剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不完全消解。
J200施加高能激光的時間比長脈沖系統(tǒng)短，短達1/10000。
J200LA-fs系統(tǒng)通過非熱過程，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產生的顆粒能在ICP源完全消解，確保在測量過程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號。
? 高精度元素和同位素測量的保障 ? ? ? ?ASI公司的技術團隊擁有30多年激光剝蝕技術的基礎研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，也是*在LA-ICP-MS系統(tǒng)中采用飛秒激光脈沖，并實現(xiàn)其性能的公司。
J200LA-fs系統(tǒng)能完成具挑戰(zhàn)性的化學分析工作。
來自ASI公司嚴謹?shù)目蒲泻图夹g支持是其它技術無法達到的。
使用ASI公司的產品，意味著能直接和*的研究團隊交流，并得到的技術支持。
? 強大的∫ Integra軟件與ICP-MS儀器協(xié)同操作 ? ? ? ?J200LA-fs系統(tǒng)軟件∫ Integra功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區(qū)域，設立靈活的采樣方式。
∫ Integra采用雙向通信控制，協(xié)同操作ICP-MS儀器達到了的水平。
∫ Integra軟件讓用戶通過基本單元“*”來制定各個硬件工作的時間序列命令集，并通過串聯(lián)多個“*”，讓系統(tǒng)自動完成各個測量工作。
硬件控制簡單、方便 ? ? ? ?∫ Integra軟件使J200LA-fs用戶簡單、方便地操作硬件部件。
只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng)、光模塊、3-D操作臺、自動高度調節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài)，不同用戶組可賦予不同的使用權限。
? 獲取勾邊樣品圖像，制定復雜的激光采樣模式 ? ? ? ?∫ Integra?軟件提供大的視頻窗口，顯示勾邊的、詳細的樣品圖像。
用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網(wǎng)格或預先編制的模式。
即使是形狀怪異的結構，采用∫ Integra的模式工具也可選定，并分析其元素或同位素。
? 雙照相系統(tǒng)掃描樣品 ? ? ? ?J200LA-fs 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像。
∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像，然后在圖像上掃視不同的位置，高倍放大選定點。
? 智能氣流控制 大限度地獲取ICP-MS等離子體的穩(wěn)定性和分析性能 ? ? ? ?∫ Integra具備智能輸送和補充氣控制功能，使每種氣體的方式達到設定值，同步開關確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài)，防止等離子體火焰噴出。
預設閥配置可選擇氬氣或作為載氣或緩沖氣。
? “*”功能讓系統(tǒng)自動運行 ? ? ? ?用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列，形成∫ Integra“*”。
制定完成的*，以后也可以調用。
多個*可編制成組，自動順序執(zhí)行，使測量工作高度自動化。
可簡單采用“recall”命令調用“*”，重復實驗，也可復制部分“*”，結合新的命令，完成新的采樣過程。
主要技術指標 激光器 工業(yè)級高頻Ytterbium diode飛秒激光器，343 nm和1030 nm，頻率可調， 大10KHz 能量控制 連續(xù)可調光學衰減器，集成激光能量監(jiān)測單元 激光光閘 自動光閘保證激光能量穩(wěn)定 激光脈沖能量(激光頭輸出) 大150J/脈沖 @ 343 nm* ， 大 1mJ/脈沖 @ 1030 nm 激光光斑大小控制 3-70微米，結合了自動光束擴展器和狹縫成像 光斑大小范圍取決于不同設備的型號，可用戶自定義光斑大小范圍 自動X-Y軸 100 mm X 100 mm 行程范圍，分辨率0.2微米 自動Z軸 35mm行程范圍，Z軸可以實現(xiàn)樣品自動高度調整，分辨率0.5微米 剝蝕點定位 紅色激光具有更好的信號精度，ASI的自動對焦技術 樣品圖像 高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預覽，支持光學變焦 樣品成像光源 泛光LED燈，同軸反射光和透明光源，正交十字光 氣體控制 雙路數(shù)字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮氣或其他氣體） 電控兩向和三向閥，ASI氣體控制單元 樣品室 Flex 樣品室具有系列可更換的墊片，適合不同大小的樣品 Vertex樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力 可用戶自定義樣品固定裝置，ASILIBS測量兼容性 與ICP-MS通訊 在J200和ICP-MS之間實現(xiàn)雙向控制 LIBS檢測器 ?(僅適用于Tandem系統(tǒng)) Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器 儀器軟件 Axiom LA系統(tǒng)操作軟件，ASI的TruLIBS發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫（用于Tandem系統(tǒng)） Clarity Femto數(shù)據(jù)處理軟件（處理LA-ICP-MS和LIBS的數(shù)據(jù)，進行定量計算/物質分類） 激光等級 一級激光產品，樣品加載區(qū)域有光學隔離板，激光自鎖保護裝置 系統(tǒng)尺寸 70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機) 75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器) 重量 600 lbs [272Kg](僅LA主機)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器) 供電要求 110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A 質保 所有硬件和軟件質保一年，飛秒激光器質保兩年 認證 CE認證 可選項 LA升級為Tandem系統(tǒng) 延保 可簽署多年質保和服務協(xié)議 * 通常作用在樣品表面的激光能量大約是20-80 J ? 應用案例 植物樣品表層及深層元素分布 ? ? ? ?采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對植物葉片進行深度的剖析。
測量葉片內部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。
實驗使用飛秒激光器，10個脈沖，脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內部。
? 大米和糙米樣品外殼及內部元素的分布圖譜 ? ? ? ?大米是中國、韓國和日本等東亞諸國的主要農作物，大米中素含量超標引發(fā)了很多食品問題。
國際食品法典委員會標準中也明確規(guī)定鉛含量不得大于0.2mg/kg ，含量不得大于0.1mg/kg，但仍然對元素含量無規(guī)定。
為了建立相關標準，韓國科學技術研究院搜集了韓國市場上常見的100種大米和糙米樣品，分析其中元素的含量及分布作為相關標準制定的科學依據(jù)。
研究結果表明，元素主要分布在糙米和大米樣品的表面，并存在元素含量明顯的向中心遞減趨勢。
結論：元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低元素含量的主要手段。
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J200飛秒激光剝蝕固體進樣系統(tǒng) 工業(yè)級高頻Ytterbium diode飛秒激光器
