3G防爆天線 防爆天線批發(fā)供應(yīng)? 防爆天線價(jià)格 天線是一種變換器,它把傳輸線上傳播的導(dǎo)行波,變換成在無界媒介(通常是自由空間)中傳播的電磁波,或者進(jìn)行相反的變換。
在無線電設(shè)備中用來發(fā)射或接收電磁波的部件。
無線電通信、廣播、電視、雷達(dá)、導(dǎo)航、電子對(duì)抗、遙感、射電天文等工程系統(tǒng),凡是利用電磁波來傳遞信息的,都依靠天線來進(jìn)行工作。
此外,在用電磁波傳送能量方面,非信號(hào)的能量輻射也需要天線。
所以天線在很多領(lǐng)域都有廣泛使用,但在一些高壓、易撞擊、水底燈的惡劣的作業(yè)環(huán)境中,通常天線易損壞、保證不了信號(hào)接收質(zhì)量。
在半導(dǎo)體制造技術(shù)中,集成電路芯片在加工完成后需要進(jìn)行測試,通??刹捎肁TE(Auto Test Equipment,自動(dòng)測試設(shè)備)來完成集成電路芯片的量產(chǎn)測試。
在此過程中可通過測試接口板將待測芯片連接到ATE的標(biāo)準(zhǔn)接口,所述測試接口板是一塊印刷電路板,在所述印刷電路板上可放置測試所需外圍電路,并將所述待測芯片的器件管腳連接到ATE測試的資源如電源、數(shù)字通道的引腳等。
在ATE的測試過程中,可能出現(xiàn)量程檔位設(shè)置不當(dāng),繼電器控制不當(dāng)?shù)纫蛩?,將?huì)導(dǎo)致測試相關(guān)的器件輸出產(chǎn)生峰值電壓,瞬態(tài)電流等結(jié)果,這就可能會(huì)超過芯片所能承受的z u i大極限范圍,將會(huì)對(duì)芯片造成損傷,并且提高芯片失效風(fēng)險(xiǎn)。
但是,ATE測試中會(huì)得到測試好壞的結(jié)果,在出現(xiàn)不當(dāng)操作時(shí)不能及時(shí)發(fā)現(xiàn),技術(shù)人員需要花費(fèi)較多時(shí)間對(duì)ATE測試的測試程序進(jìn)行調(diào)試,影響生產(chǎn)進(jìn)程。
? ? 新設(shè)計(jì)和制造的高壓電氣設(shè)備,通過局部放電測量可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)絕緣中的薄弱環(huán)節(jié),防止設(shè)計(jì)與制造工藝上的差錯(cuò)及材料的使用不當(dāng)。
局部放電測試是鑒別產(chǎn)品絕緣或設(shè)備運(yùn)行可靠性的一種重要方法。
它能發(fā)現(xiàn)耐壓試驗(yàn)無法發(fā)現(xiàn)的設(shè)備缺陷。
局部放電測試是當(dāng)前電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)的重要項(xiàng)目之一。
在GIS設(shè)備局部放電測試中,當(dāng)GIS設(shè)備內(nèi)部發(fā)生局部放電時(shí),首先由局部放電測試儀的傳感器接收,再由局部放電測試儀予以分析和處理。
但是由于部分局部放電測試儀存在傳感器靈敏度較低的缺陷,會(huì)導(dǎo)致發(fā)生以下問題: 1、當(dāng)GIS設(shè)備使用這種傳感器來接收局部放電信號(hào)時(shí),當(dāng)GIS設(shè)備內(nèi)部發(fā)生了局部放電,可能導(dǎo)致傳感器無法檢測到這種信號(hào)。
2、GIS局部放電測試儀一般測試局部放電信號(hào)中的高頻部分,而高頻信號(hào)在傳播過程中會(huì)衰減比較大,當(dāng)GIS設(shè)備內(nèi)部發(fā)生局部放電時(shí),可能因?yàn)閭鞲衅鞯难b設(shè)位置較遠(yuǎn),而檢測不到這種局部放電信號(hào)。
模擬出高電壓幅值的特高頻局部放電信號(hào),用于檢測GIS局部放電測試儀的傳感器是否能正常工作,具有實(shí)際的意義。
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